日本SANKO SWT-8000N膜厚計(jì)

簡(jiǎn)要描述：日本SANKO SWT-8000N膜厚計(jì)
測(cè)定範(fàn)囲 0～2.00mm
表示分解能 1μm：0～999μm
　切替で 0.1μm：0～400μm
　　　　　　0.5μmμm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.00mm

產(chǎn)品型號(hào)： SWT-8000N

所屬分類：涂層測(cè)厚儀

更新時(shí)間：2024-08-22

詳細(xì)說明：

日本SANKO SWT-8000N膜厚計(jì)

測(cè)定範(fàn)囲	0～2.00mm
表示分解能	1μm：0～999μm 　切替で 0.1μm：0～400μm 　　　　　　0.5μmμm：400～500μm 0.01mm：1.00～2.00mm
測(cè)定精度	均一面に対して 0～100μm：±1μmまたは指示値の±２％ 101μm～2.00mm：±２％以內(nèi)
表示方式	LCDデジタル、表示ホールド
メモリ	検量線×1
プローブ	1點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付、φ13×47mm
電源	単３乾電池（1.5V）×２　オートパワーオフ
使用溫度	0～40℃（結(jié)露しないこと）
寸法重量	72（W）×30（H）×156（D）mm、約270g
付屬品	標(biāo)準(zhǔn)厚板、テスト用ゼロ板、収納ケース

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