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Fluke 1621接地電阻測試儀技術(shù)參數(shù)

更新時間:2015-12-08 點擊量:990
Fluke 1621接地電阻測試儀   產(chǎn)地:美國FLUKE

Fluke 1621接地電阻測試儀移動使用的手持式接地測試儀
Fluke 1621 是一款簡單易用的接地測試儀。 對于接地電阻測試場合,1621 是檢測可靠接地連接線路的*道防線。 裝置采用多種基本的接地測試方法,其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。 它的尺寸輕巧方便,擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏,使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。 Fluke 1621 擁有簡單的用戶界面和直觀易用的功能,是一款電氣承包商、設(shè)備測試工程人員和接地專業(yè)人士的手持式接地測試工具。

 功能特點
三極電壓降接地測試法進行基本的測量
兩極電阻測量法提供更多的功能
單鍵操作,輕松捕獲數(shù)值
自動“信噪”電壓檢測功能可確保的測量
危險電壓警告功能提供更高的用戶保護級別
大屏幕背光顯示屏便于清晰地讀取和記錄數(shù)據(jù)
小巧緊湊,方便攜帶
測量結(jié)果超過設(shè)定的限制值時立即發(fā)出警告
(如果使用可調(diào)的限制設(shè)置)
安全等級600 V CAT II 類

 

常規(guī)技術(shù)指標
測量功能
  三極接地電阻,兩極交流電阻,干擾電壓
基本誤差
  查閱參考溫度范圍,提供一年保修
測量速率
  每秒測量 2 次
電池
  1 個 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài)
  如果電壓低于 6.5 V,則會顯示 LO-BAT(低電量)
電壓
H/C2 和 E/C1 接頭之間:  zui大 250 Veff(有效電壓)
S/P2 和 E/C1 接頭之間: zui大 250 Veff
氣候類別
  VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個 DIN 40040,4/87)
溫度性能
工作: -10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F)
操作: 0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F)
存儲: -20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F)
參考:  +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù)
  量程的 ± 0.1 %,每開氏溫度
安全
  IEC/EN 61010-1,600 V,II 類,2 級污染
尺寸
  113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護套
重量
  850 克(1.9 磅),包括標準附件,體積約 600 立方厘米
注:
  如果不使用測試儀,或需要長期存放,請卸下電池并與測試儀分開存放,以免電池泄露對測試儀造成損害。
注:
  測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標準要求;通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準確度,儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。

 

 

 

電氣技術(shù)指標
zui大偏差:
E1 影響因素 位置
E1 偏差影響 0%
E2 影響因素 電壓
E2 偏差影響 0%
E3 影響因素 溫度 E3
E3 偏差影響 2.3 %
E4 影響因素 串行干擾電壓 (20 V)
E4 偏差影響 0.6 %
E5 影響因素 探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響 10%
測試電壓
  3.7 kV
保護等級
  IP 40;IEC/EN 60529
電磁兼容性
  輻射: EC/EN 61326,B 類
  抗擾: IEC/EN 61326,附錄 C
RE 電阻測量
測量方法 使用改進的串擾衰減方法進行電流-電壓測量,無需補償導線電阻測量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標準
開放電路電壓 23 至 24 V ac
短路電流 > 50 mA ac
測量頻率 128 Hz
zui大許可過載 250 Veff
測量時間
  8 秒(從按“開始起計算的平均值)
限制輸入
  即使測試儀關(guān)閉,仍會保留設(shè)定值(如果電池電量充足)
自動切換分辨率
RH < 7 kΩ
分辨率 0.01 Ω
RH < 50 kΩ
分辨率 0.1 Ω
RH > 50 kΩ
分辨率 1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示
zui大電壓 30 Veff
共模抑制 > 80 dB,50 Hz 和 60 Hz
Ri 680 kΩ
測量誤差 對于純交流電和直流電信號,< 10 %

 

 

 

量程
0.15 Ω 至 20 Ω
分辨率 0.01 Ω
顯示范圍 0 至 19.99 Ω
200 Ω
分辨率 0.1 Ω
顯示范圍 20 至 199.9 Ω
2 kΩ
分辨率 1 Ω
顯示范圍 200 至 1999 Ω
基本誤差
  ±(測量值的 6 % + 5 位數(shù)字)
操作誤差 IEC 61557
  ±(測量值的 18 % + 5 位數(shù)字)
注:
  [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值,即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。
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